長期以來，工業相機主要聚焦于可見光成像技術，但在不可見光領域，比如紫外波長范圍內，其應用需求也日益豐富。

為此，Basler全新推出ace 2 X UV相機，搭載Sony（索尼）IMX487 Pregius S UV芯片，可在200 – 1000nm范圍內感光，并適用于紫外波長范圍的成像，從而填補了在可見光波段下無法實現的應用空白。

asler ace 2 X UV相機典型應用

晶圓檢測

在半導體制造中，晶圓的檢測是確保產品質量的關鍵步驟。Basler ace 2 X UV相機即使在超出可見光的范圍下也能對晶圓材料進行有效檢測，其中包括表面檢測工作。

在此類應用中，紫外波段光譜因更短的波長所帶來的更高解析度，可以捕捉到更精細的特征和結構，有助于及時發現晶圓上的微小缺陷，從而提高產品的良品率和可靠性。

晶圓檢測

高壓輸電線電弧檢測

當高壓輸變電系統中的絕緣子性能逐漸衰退時，不僅會導致電暈放電現象的產生，還會伴隨紫外線的釋放。長此以往會對高壓輸變電系統的穩定性和安全性造成威脅。

因此，使用紫外相機能夠有效地對高壓電網電弧進行實時監測：紫外相機能夠在電弧放電初期迅速捕捉到微弱的紫外線電弧放電信號，及時發現潛在的安全隱患。同時，紫外相機能夠準確區分電弧放電信號與其他光源信號，降低誤報率。

監測高壓輸變電系統的穩定與安全

 ●  Basler ace 2 X UV相機優勢

 ●  Basler ace 2 X UV相機截面尺寸僅為29 x 29 mm，易于進行系統設計。

 ●  提供GigE、USB 3.0和5GigE接口，支持工控機和嵌入式系統，以滿足不同的應用要求。

 ●  Basler UV相機內置的Compression Beyond（壓縮超越）功能可以更高效地利用帶寬，借助強大的FPGA算法直接在相機內對圖像數據進行無損壓縮，縮減數據冗余。在大幅減少數據量的同時還能完全保留成像質量。

未使用壓縮超越功能的原始圖像

使用壓縮超越功能后的圖像，壓縮系數為2.6

 ●  此外，Basler ace 2 X UV相機還內置了Pixel Beyond（像素超越）功能，除了采用整數系數，也可以通過非整數系數對像素進行合并。

Basler 像素超越功能

像素超越功能可以靈活調整分辨率與擴展像素尺寸 - 在不改變靶面尺寸的前提下實現介于相機最大芯片分辨率和其?分辨率之間的任何所需的分辨率，從而更有效地利用現有帶寬，顯著降低主機端需要處理的數據量。

Basler ace 2 X UV相機不僅拓寬了機器視覺領域在不可見光范圍內的應用，也進一步豐富了Basler一站式視覺解決方案產品線，以滿足客戶更多應用需求。