您需要測(cè)試系統(tǒng) –老化，測(cè)試及可靠性系統(tǒng)與DAS（數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)）嗎？
OPX系列電源系統(tǒng)可以用于各種研究領(lǐng)域和可靠性、耐久性、長(zhǎng)期老化試驗(yàn)和生產(chǎn)實(shí)踐并附加了同步示波器，萬(wàn)用表，電子負(fù)載等測(cè)試儀器，價(jià)格合理，因此您可以自如的使用該系統(tǒng)。體驗(yàn)奇妙的體系結(jié)構(gòu)和解決方案

您可以不需花太多精力和預(yù)算來(lái)建立這個(gè)系統(tǒng)。可是之后您需要花巨大的時(shí)間去調(diào)試，修改和故障排除。 那么試試ODA 的OPX系統(tǒng)吧。
我們不僅提供硬件，同時(shí)還提供了客戶所需的軟件。

只要您提出用途和具體設(shè)想的系統(tǒng)給我們，我們將提供給您合適的解決方案，讓您能夠順利完成你的項(xiàng)目。

以下是我們所從事系統(tǒng)的范例：
（一）大功率LED的可靠性測(cè)試系統(tǒng)
144CH 通道：144CH
控制開發(fā)平臺(tái)：NI Labview
LED 12Package JIG and Chamber LED 12 包裝 JIG和Chamber
LED If, Vf, Ir, Vr, R Date Processing


（二）LED, LD PD可靠性試驗(yàn)系統(tǒng)
Channels : 36CH通道：36CH
Control Solution : NI Labview控制解決方案：NI Labview
LED, LD, PD each 12Package JIG and Chamber
LED If, Vf, Ir, Vr, R Date Processing


（三）電源轉(zhuǎn)換器可靠性老化系統(tǒng)
Channels : 25CH 通道：25CH
Control Solution : Agilent VEE控制解決方案：安捷倫 VEE
DC-DC Converter ALL Enclosed Products 25Channel Slide電源轉(zhuǎn)換器全封閉產(chǎn)品25頻道滑塊
Type 2 Layer JIG
25Slot Fail/Pass & Data Acquire Solution


可靠、耐久性測(cè)試系統(tǒng)
通道：2CH；開發(fā)平臺(tái)：NI Labview 用途：電動(dòng)車電池測(cè)試

耐久性測(cè)試系統(tǒng)
通道：26CH 開發(fā)平臺(tái)：NI Labview


LED Life-Time Test

在耐久性試驗(yàn)中，我們集成了可編程的DC電源可編程的電子負(fù)載
我們的LP系列不僅有CV，CC，CR模式，同時(shí)也提供循環(huán)測(cè)試模式和動(dòng)態(tài)模式來(lái)設(shè)置電壓變動(dòng)的斜率和多種電力負(fù)荷測(cè)試；同時(shí)也可以完成終端，終端線路和容量測(cè)試，電池充電/放電試驗(yàn)。