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KEYENCE基恩士 SI-F80R系列 分光干涉式晶片厚度計

供稿:基恩士(中國)有限公司 2011/10/9 21:48:14

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    關鍵字: KEYENCE 、基恩士、非接觸式測量、晶片厚度
    產品分類:
    品牌: 基恩士
    產品簡介:
    KEYENCE基恩士推出SI-F80R系列分光干涉式晶片厚度計,安裝在距離晶片80mm的位置,便可進行測量,即使是已封膠的晶片亦能測出其厚度。
    更多內容請訪問 基恩士(中國)有限公司(http://c.gongkong.com/?cid=44538)

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