集成電路測試是確保芯片質量的關鍵步驟，其中最主要的兩類測試是CP測試（Chip Probing）和FT測試（Final Test）。這兩種測試方法貫穿了芯片生產的前后階段，分別對芯片的晶圓和封裝后的成品進行測試。FT測試是封裝后的芯片成品測試，旨在對經過封裝后的芯片進行全面、嚴格的功能和性能檢測，以確保芯片能滿足設計要求并在實際應用中可靠運行。

半導體自動測試設備是一種專門用于芯片測試的自動化設備，是FT測試環節的關鍵設備，它通過對芯片進行各種測試，評估其性能、功能和可靠性，以確保芯片符合設計要求。在芯片設計和生產過程中，半導體自動測試設備早已成為確保芯片質量的關鍵裝備，有助于發現和解決潛在的各種問題。

1.為保障測試系統的協調和穩定運行、多項檢測任務并行、管理檢測流程，需具備卓越算力；

2.為實現外接示波器、萬用表、頻譜分析儀等多功能模塊，需要具備靈活擴展能力；

3.為實現數據采集、處理與分析，需要具備穩定需要具備穩定網絡環境；

4.為保證設備持續穩定工作、提升檢測效率，需要具備高可靠性；

基于用戶需求，源控提供了CIS-DQ67-FAR1標準4U上架式箱體電腦為核心計算單元的半導體測試解決方案，該方案具備以下優勢：

方案核心計算產品具備豐富I/O接口，按需擴展，可為外接多功能模塊提供豐富擴展接口資源；用戶通過接口實現外接示波器、萬用表、頻譜分析儀等多功能模塊，實現信號激勵和響應采集；

網絡穩定

方案核心計算產品具備網口擴展功能，數據傳輸高速穩定，可保障產品檢測相關數據在傳輸過程中的穩定性，為數據完整性提供網絡保障；

方案核心計算產品具備良好防塵、散熱、抗振和抗干擾功能，支持在嚴苛環境下持續穩定運行；