某電子制造企業需要對屏蔽罩進行100%全檢，通過檢測屏蔽罩平面度，判定屏蔽罩是否達到安裝標準，要求檢測精度高、速度快，且不能對產品造成任何損傷。

檢測屏蔽罩的平面度，精度要求0.05mm，重復性要求0.01mm，檢測CT≤1s。

選用WONSOR 三維結構光相機SL-01100-E，搭配軟件算法，對屏蔽罩實現高精度全檢。

WONSOR三維結構光相機采用自主研發的光學成像技術，成像清晰穩定，檢測精度±0.02mm。

SL-01系列結構光體積小巧，適合與協作機械臂搭配使用。

? 客戶采用用灣測三維結構光方案后，實現了100%在線全檢，提高了生產效率。

? 軟件界面友好，操作簡單易學，無需專業人員即可進行操作。

除精密測量外，灣測還有

支持3D點云輸出的

高度識別傳感器SL-M系列

能檢測有無、識別到位等

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